簡要描述:納克公司光譜儀適用于Fe基產(chǎn)品領(lǐng)域的生產(chǎn)過程控制,中心實驗室成品檢驗等樣品分析,廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機械、金屬加工、汽車制造、航空航天、兵器、等領(lǐng)域的生產(chǎn)過程控制。
一、納克光譜儀儀器介紹:
納克光譜儀廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機械、金屬加工、汽車制造、航空航天、兵器、等領(lǐng)域的生產(chǎn)過程控制,中心實驗室成品檢驗等,可用于Fe基金屬及其合金樣品分析??蓪ζ瑺睢K狀以及棒狀的固體樣品中的非金屬元素(C、P、S、B等)以及金屬元素進行準確定量分析,分析結(jié)果準確,分析精度高。儀器日常維護簡單,運行成本低,故障率低。
二、技術(shù)參數(shù):
1.焦距:750mm
2.譜線范圍:120-800nm
3.高能預火花光源,激發(fā)頻率:300-1000Hz
4.帕邢-龍格架構(gòu)法,真空光學系統(tǒng)
5.光電倍增管檢測器
6.光柵刻線:2400條/mm
7.工作環(huán)境:溫度10-40℃濕度<80%
8.電源:220V 16A 2.5KVA
9.重量:350Kg
10.儀器尺寸:長105×深85×高120cm
11.整體出射狹縫,預留240條
三、儀器特點:
激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源,適應(yīng)各種不同材料
原位單次放電采集的技術(shù)(SDA)有效提高分析精度
可變延時積分技術(shù),大大降低背景干擾
高精度光電倍增管負高壓獨立供電連續(xù)可調(diào)技術(shù),調(diào)整更精確,可程序調(diào)整,提高動態(tài)范圍
單板式透鏡架,擦拭時大大降低對光室的污染
基于ARM9的儀器狀態(tài)實時監(jiān)控系統(tǒng)
USB采集,通用性更強
固態(tài)吸附阱,防止油氣對光室的污染,提高長期運行穩(wěn)定性
綠光背景燈,加快響應(yīng)速度,提高短期分析精度
銅火花臺底座,提高散熱性及堅固性能